BITE Sebagai administrasi kesalahan pasif serta diagnosis yg dibangun ke dalam sistem untuk mendukung proses perawatan. Built-in alat uji mengacu pada multimeter, osiloskop, probe debit, serta generator frekuensi yg disediakan sebagai bab dari sistem untuk memungkinkan pengujian serta melaksanakan diagnostik.
➤ Fungsi yg sama atau, lebih spesifik lagi, mengacu pada tes individual.
➤ Akomodasi dari kesalahan (bagaimana sistem secara aktif merespon kesalahan).
➤ Pemberitaan atau penghapusan kesalahan untuk memperingatkan kemungkinan dampak
serta / atau proteksi dalam mengatasi dilema peralatan yg salah.
➤ Rangkaian pengujian merupakan bab permanen dari sistem
➤ Bisa salah Ada yg tahu berbeda, masuk
➤ Digunakan untuk diagnosis sendiri kesalahan pada peralatan individual.
➤ Saat harus mencari tahu apa yg salah sebelum beliau bisa memperbaikinya.
Peralatan itu mengungkapkan kepasertaya apa yg salah.
➤ Perangkat dipasamg serta bisa dilepas yg merupakan bab dari peralatan
atau komponen yg diuji yg dipakai untuk tujuan pengujian.
➤ Perangkatyg dipasang secara permanen pada peralatan utama
serta dipakai untuk tujuan pengujian peralatan utama, baik secara independen
maupun dalam kaitannya dengan peralatan uji eksternal.
Fungsionalitas
➤ Analisis hasil pemantauan kegagalan
➤ Melaporkan serta menghafal kegagalan
➤ Pengelolaan tes
Pengujian Sistem - Perancangan metode yg sanggup menguji sistem pada aneka macam tingkat fungsional. Memungkinkan kelompok komponen diuji secara keseluruhan serta mengurangi waktu yg diharapkan untuk menguji komponen secara terpisah.
Keuntungan dari metode - Rencana pengujian lengkap sanggup ditulis untuk memperlihatkan urutan terbaik pengujian untuk keluaran bentuk gelombang atau voltase untuk setiap tingkat fungsional.
Pengembangan set tes khusus, yg disebut AUTOMATED TEST EQUIPMENT (ATE). Tes ini bisa mensimulasikan kondisi operasi nyata dari sistem yg sesertag diuji. Tegangan sinyal yg sempurna diterapkan oleh uji yg disetel ke aneka macam tingkat fungsional sistem, serta output dari masing-masing tingkat dipantau.
Urutan pengujian di prewritten serta langkah-langkahnya sanggup diaktifkan secara manual atau otomatis. Batas untuk setiap tingkat fungsional diprogram untuk memberi indikasi "go / no-go" atau mendiagnosis kesalahan pada komponen.
Indikasi Go / No-Go berarti bahwa tingkat fungsional memenuhi spesifikasi pengujian (go) atau gagal memenuhi spesifikasi (no-go). Jika indikasi no-go diamati untuk fungsi tertentu, area sistem di mana ia terso kemudian diuji lebih lanjut. Anda sanggup menguji area dilema dengan memakai alat uji elektronik tujuan umum serta panduan pemecahan dilema untuk sistem.
Alat uji elektronik tujuan umum (GPETE) akan dibahas nanti dalam topik ini. (Isolasi kesalahan yg efektif pada dikala ini tergantung pada pengalaman teknisi serta kualitas manual pemecahan masalah.) Setelah kesalahan terso, bab yg rusak kemudian diganti atau diperbaiki, tergantung pada sifat cacatnya.
Pada tahap ini, bab yg rusak biasanya yakni kartu sirkuit, modul, atau bab diskrit, ibarat sakelar, relay, transistor, atau resistor.
Salah satu jenis isolasi kesalahan yg bisa berupa on-line atau off-line yakni BUILT-IN TEST EQUIPMENT (BITE). BITE yakni perangkat yg dipasang secara permanen pada peralatan utama (sistem); itu hanya dipakai untuk pengujian peralatan atau sistem di mana ia dipasang secara independen atau berafiliasi dengan alat uji eksternal. Jenis spesifik BITE terlalu bervariasi untuk dibahas di sini, namun mungkin sesederhana satu set meter serta sakelar atau serumit sistem diagnostik yg dikendalikan komputer.
Tingkat fungsional serta desain modular telah berhasil diterapkan pada sebagian besar sistem elektronik yg dipakai dikala ini; Namun, kecenderungan untuk meningkatkan jumlah subassemblies dalam modul dengan memasukkan mikroelektronika akan menciptakan metode pengujian ini kurang serta kurang efektif.
Kerapatan serta kemasan rangkaian yg meningkat memungkinkan komponen mikroelektronik menciptakan pemecahan dilema serta lokasi sesar sulit atau, dalam beberapa kasus, mustahil dilakukan. Upaya teknisi harus dibantu bila perbaikan sistem mikroelektronika sempurna waktu harus dicapai.
Perbaikan ini sangat penting bila dipertimbangkan menurut persyaratan ketersediaan yg ketat untuk sistem hari ini. Dilema ini telah menjadikan tren berkembangnya sistem uji otomatis ON-LINE serta OFF-LINE. Sistem on-line didesain untuk terus memantau performa serta untuk secara otomatis mengisolasi kesalahan pada rakitan yg sanggup dilepas. Sistem off-line secara otomatis menyidik rakitan yg sanggup dilepas serta mengisolasi kesalahan pada tingkat komponen.
Dua Sistem on-line
➤ EVALUASI DAN SISTEM PEMANTAUAN TEST (TIM)
➤ SISTEM TEST OTOMATIS CENTRALIZED (CATS)
Saat ini sesertag diunitsi atau sesertag dikembangkan oleh Angkatan Laut
Sistem on-line yg terus memantau performa sistem elektronik serta mengisolasi kesalahan pada perakitan yg sanggup dilepas. Sistem ini dikendalikan oleh komputer dengan memakai agenda uji pada kaset, kaset, atau disket berlubang atau magnetik. Menampilkan dipakai untuk menampilkan status peralatan serta memperlihatkan data dengan arahan untuk lokalisasi kesalahan. Lampu, biasanya LED, dipakai untuk menunjukkan
Built-In Test - Deteksi dari Kesalahan
➤ Fungsi yg sama atau, lebih spesifik lagi, mengacu pada tes individual.
➤ Akomodasi dari kesalahan (bagaimana sistem secara aktif merespon kesalahan).
➤ Pemberitaan atau penghapusan kesalahan untuk memperingatkan kemungkinan dampak
serta / atau proteksi dalam mengatasi dilema peralatan yg salah.
➤ Rangkaian pengujian merupakan bab permanen dari sistem
➤ Bisa salah Ada yg tahu berbeda, masuk
➤ Digunakan untuk diagnosis sendiri kesalahan pada peralatan individual.
➤ Saat harus mencari tahu apa yg salah sebelum beliau bisa memperbaikinya.
Peralatan itu mengungkapkan kepasertaya apa yg salah.
➤ Perangkat dipasamg serta bisa dilepas yg merupakan bab dari peralatan
atau komponen yg diuji yg dipakai untuk tujuan pengujian.
➤ Perangkatyg dipasang secara permanen pada peralatan utama
serta dipakai untuk tujuan pengujian peralatan utama, baik secara independen
maupun dalam kaitannya dengan peralatan uji eksternal.
Fungsionalitas
➤ Analisis hasil pemantauan kegagalan
➤ Melaporkan serta menghafal kegagalan
➤ Pengelolaan tes
Pengujian Sistem - Perancangan metode yg sanggup menguji sistem pada aneka macam tingkat fungsional. Memungkinkan kelompok komponen diuji secara keseluruhan serta mengurangi waktu yg diharapkan untuk menguji komponen secara terpisah.
Keuntungan dari metode - Rencana pengujian lengkap sanggup ditulis untuk memperlihatkan urutan terbaik pengujian untuk keluaran bentuk gelombang atau voltase untuk setiap tingkat fungsional.
Pengembangan set tes khusus, yg disebut AUTOMATED TEST EQUIPMENT (ATE). Tes ini bisa mensimulasikan kondisi operasi nyata dari sistem yg sesertag diuji. Tegangan sinyal yg sempurna diterapkan oleh uji yg disetel ke aneka macam tingkat fungsional sistem, serta output dari masing-masing tingkat dipantau.
Indikasi Go / No-Go berarti bahwa tingkat fungsional memenuhi spesifikasi pengujian (go) atau gagal memenuhi spesifikasi (no-go). Jika indikasi no-go diamati untuk fungsi tertentu, area sistem di mana ia terso kemudian diuji lebih lanjut. Anda sanggup menguji area dilema dengan memakai alat uji elektronik tujuan umum serta panduan pemecahan dilema untuk sistem.
Alat uji elektronik tujuan umum (GPETE) akan dibahas nanti dalam topik ini. (Isolasi kesalahan yg efektif pada dikala ini tergantung pada pengalaman teknisi serta kualitas manual pemecahan masalah.) Setelah kesalahan terso, bab yg rusak kemudian diganti atau diperbaiki, tergantung pada sifat cacatnya.
Pada tahap ini, bab yg rusak biasanya yakni kartu sirkuit, modul, atau bab diskrit, ibarat sakelar, relay, transistor, atau resistor.
PERALATAN TEST BUILT-IN
Salah satu jenis isolasi kesalahan yg bisa berupa on-line atau off-line yakni BUILT-IN TEST EQUIPMENT (BITE). BITE yakni perangkat yg dipasang secara permanen pada peralatan utama (sistem); itu hanya dipakai untuk pengujian peralatan atau sistem di mana ia dipasang secara independen atau berafiliasi dengan alat uji eksternal. Jenis spesifik BITE terlalu bervariasi untuk dibahas di sini, namun mungkin sesederhana satu set meter serta sakelar atau serumit sistem diagnostik yg dikendalikan komputer.
PERALATAN TEST ON-LINE UJI
Tingkat fungsional serta desain modular telah berhasil diterapkan pada sebagian besar sistem elektronik yg dipakai dikala ini; Namun, kecenderungan untuk meningkatkan jumlah subassemblies dalam modul dengan memasukkan mikroelektronika akan menciptakan metode pengujian ini kurang serta kurang efektif.
Kerapatan serta kemasan rangkaian yg meningkat memungkinkan komponen mikroelektronik menciptakan pemecahan dilema serta lokasi sesar sulit atau, dalam beberapa kasus, mustahil dilakukan. Upaya teknisi harus dibantu bila perbaikan sistem mikroelektronika sempurna waktu harus dicapai.
Perbaikan ini sangat penting bila dipertimbangkan menurut persyaratan ketersediaan yg ketat untuk sistem hari ini. Dilema ini telah menjadikan tren berkembangnya sistem uji otomatis ON-LINE serta OFF-LINE. Sistem on-line didesain untuk terus memantau performa serta untuk secara otomatis mengisolasi kesalahan pada rakitan yg sanggup dilepas. Sistem off-line secara otomatis menyidik rakitan yg sanggup dilepas serta mengisolasi kesalahan pada tingkat komponen.
Dua Sistem on-line
➤ EVALUASI DAN SISTEM PEMANTAUAN TEST (TIM)
➤ SISTEM TEST OTOMATIS CENTRALIZED (CATS)
Saat ini sesertag diunitsi atau sesertag dikembangkan oleh Angkatan Laut
Tim Uji Evaluasi serta Pemantauan Sistem
(TEAMS)
Sistem on-line yg terus memantau performa sistem elektronik serta mengisolasi kesalahan pada perakitan yg sanggup dilepas. Sistem ini dikendalikan oleh komputer dengan memakai agenda uji pada kaset, kaset, atau disket berlubang atau magnetik. Menampilkan dipakai untuk menampilkan status peralatan serta memperlihatkan data dengan arahan untuk lokalisasi kesalahan. Lampu, biasanya LED, dipakai untuk menunjukkan
